Edition 2026
FINE PROCESS TECHNOLOGY EXPO JAPAN - NAGOYA 2026
RX Japan
info@reedexpo.co.jpFecha del evento
Aichi Sky Expo
5-chōme-10番1号 Centrair, Tokoname, JapanFrecuencia
AnualAcerca del evento
Descripción
FINE PROCESS TECHNOLOGY EXPO es una exposición internacional especializada centrada en tecnologías de procesamiento de alta precisión esenciales para la fabricación de productos electrónicos. Como parte de la reconocida serie NEPCON JAPAN, el evento presenta soluciones de vanguardia en moldeo, corte, prensado, grabado y mecanizado de ultraprecisión. Sirve como una plataforma vital para que ingenieros y fabricantes descubran hardware avanzado e innovaciones técnicas que impulsan la miniaturización y las capacidades de alto rendimiento de los dispositivos electrónicos modernos.
Expositores
Moldeo de precisión, corte láser, grabado, prensado, mecanizado de ultraprecisión y tecnologías de tratamiento de superficies finas para la electrónica.
Actividades
Seminarios técnicos sobre tendencias de fabricación, sesiones de encuentros empresariales y eventos de networking para profesionales de la industria electrónica.
Ponentes
Líderes de la industria de los principales fabricantes de electrónica e investigadores técnicos que debaten sobre el futuro del procesamiento de alta precisión.
Demostraciones
Demostraciones en vivo de procesamiento láser de alta velocidad, maquinaria de micromoldeo y sistemas automatizados de inspección de precisión.
Accesibilidad
El evento se celebra habitualmente en el Makuhari Messe. Desde el aeropuerto de Narita, tome el autobús Keisei hasta Makuhari Messe (40 minutos). Desde el aeropuerto de Haneda, tome el Airport Limousine Bus (50 minutos). En tren, tome la línea JR Keiyo hasta la estación de Kaihimmakuhari, seguida de una caminata de 5 minutos.
Boleto
Visitor Registration
- Standard entry for industry professionals with a valid business card or pre-registration code.
VIP Registration
- Exclusive entry for executives and decision-makers, providing access to the VIP lounge and keynote sessions.
Ubicación
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